CMOS芯片及平板探测器
北京众星联恒科技有限公司
网站首页
关于我们
公司简介
在线留言
在线申请
联系我们
新闻动态
全部
行业资讯
企业新闻
产品展示
全部
X射线分析系统
相衬微米CT系统
X射线防护柜
超快动态诊断装置
微焦点X射线源
X射线微焦源—XRD
X射线微焦源—XRF
X射线微焦源—标定
X射线光学元件
双曲线弯晶X射线聚焦镜
Montel镜片
毛细管X光透镜
Göbel 镜片
XRF分析晶体
HOPG分光晶体
同步辐射镜片
X射线无散射针孔
X射线光栅及LIGA微结构
金刚石荧光屏/窗口
Channel cut
X射线组合折射透镜
EUV/XUV/SXR光学元件
XUV高反射率镜
XUV窄带反射镜
XUV宽带反射镜
XUV掠入射反射镜
EUV/SXR准直,聚焦镜
多层膜偏振镜/UV聚焦镜
X射线菲涅尔波带片
XUV滤光片/多层膜半反镜
XUV二向色镜
XUV透射光栅
SXR反射光栅/SiN.SiC膜
反射式EUV测试图案
EUV/SXR/X射线探测器
EUV/XUV/X-Ray相机
光子计数X射线探测器(Timepix)
光子计数X射线探测器(Medipix)
X射线探测器-高性价比
CMOS芯片及平板探测器
X射线剂量探测器
直接探测器电子相机-高帧率
间接探测X射线相机
EUV/SXR/X射线光谱仪
UV/VIS/NIR相机
质谱仪
克努森隙透质谱
辉光放电质谱仪
应用方案
全部
产品应用
X射线源
X射线-近红外探测器/相机
解决方案
术语解释
全部
CCD常见术语
HPC常见术语
X射线常见表征术语
加入我们
合作伙伴
特色服务
全部
探测器Sensor清洗
软件SDK辅助开发
X射线源安装调试
X射线光学组件调试
GDMS增值服务
English
CMOS芯片及平板探测器
全部
X射线分析系统
全部
相衬微米CT系统
X射线防护柜
超快动态诊断装置
微焦点X射线源
全部
X射线微焦源—XRD
X射线微焦源—XRF
X射线微焦源—标定
X射线光学元件
全部
双曲线弯晶X射线聚焦镜
Montel镜片
毛细管X光透镜
Göbel 镜片
XRF分析晶体
HOPG分光晶体
同步辐射镜片
X射线无散射针孔
X射线光栅及LIGA微结构
金刚石荧光屏/窗口
Channel cut
X射线组合折射透镜
EUV/XUV/SXR光学元件
全部
XUV高反射率镜
XUV窄带反射镜
XUV宽带反射镜
XUV掠入射反射镜
EUV/SXR准直,聚焦镜
多层膜偏振镜/UV聚焦镜
X射线菲涅尔波带片
XUV滤光片/多层膜半反镜
XUV二向色镜
XUV透射光栅
SXR反射光栅/SiN.SiC膜
反射式EUV测试图案
EUV/SXR/X射线探测器
全部
EUV/XUV/X-Ray相机
光子计数X射线探测器(Timepix)
光子计数X射线探测器(Medipix)
X射线探测器-高性价比
CMOS芯片及平板探测器
X射线剂量探测器
直接探测器电子相机-高帧率
间接探测X射线相机
EUV/SXR/X射线光谱仪
全部
UV/VIS/NIR相机
质谱仪
全部
克努森隙透质谱
辉光放电质谱仪
CMOS芯片及平板探测器
CMOS成像芯片
上一页
1
下一页
转至第
加载更多
首页
产品
新闻
联系