硅漂移X射线探测器
XRS是一套完备的X射线能谱探测系统,非常适用于工业和实验室的X射线荧光分析等需要X射线能谱测量的应用。XRP是一款基本XRS的紧凑型版本,非常适合集成与手持设备和工业设备中。主要特点:◆有效探测面积:10-30 mm2◆能量分辨率:125-129 eV FWHM @Mn-Ka,-30°◆真空密封性:<0.01 mbar◆窗口材料:BE,PTW(低能应用)
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XRS是一套完备的X射线能谱探测系统,非常适用于工业和实验室的X射线荧光分析等需要X射线能谱测量的应用。XRP是一款基本XRS的紧凑型版本,非常适合集成与手持设备和工业设备中。主要特点:◆有效探测面积:10-30 mm2◆能量分辨率:125-129 eV FWHM @Mn-Ka,-30°◆真空密封性:<0.01 mbar◆窗口材料:BE,PTW(低能应用)
XRS是一套完备的X射线能谱探测系统,非常适用于工业和实验室的X射线荧光分析等需要X射线能谱测量的应用。XRP是一款基本XRS的紧凑型版本,非常适合集成与手持设备和工业设备中。
主要特点:
◆有效探测面积:10-30 mm2
◆能量分辨率:125-129 eV FWHM @Mn-Ka,-30°
◆真空密封性:<0.01 mbar
◆窗口材料:BE,PTW(低能应用)
XRS-The XRF Detector System参数:
名称 | 有效面积 | 能量分辨率 | 峰背比@Mn_K | 窗口材料 | 准直器 |
SDD-10-130-BeP Complete XRS | 10 | 130 eV ± 3eV | 4 500 ± 1 000 | 8 μm Be | 3.2mm |
SDDplus-10-128pnW-BeP Complete XRS | 10 | 128 eV ± 3eV | 7500 ± 2500 | 8 μm Be | 3.2mm |
SD3plus-10-125pnW-BeP Complete XRS | 10 | 125 eV ± 3eV | 15000 ± 5000 | 8 μm Be | 3.1mm |
SD3plus-10-125pnW-PTW Complete XRS | 10 | 125 eV ± 3eV | 15000 ± 5000 | PTW - TP/LSplus/LTplus | 3.1mm |
SDDplus-30-128pnW-BeP Complete XRS | 30 | 128 eV ± 3eV | 12500 ± 2500 | 8 μm Be | 5.8mm |
XRP-The XRF Preamplifier Module参数:
名称 | 有效面积 | 能量分辨率 | 峰背比@Mn_K | 窗口材料 | 准直器 |
SDD-10-130-BeP Complete XRP | 10 | 130 eV ± 3eV | 4500 ± 1000 | 8 μm Be | 3.2mm |
SDDplus-10-130p-BeP Complete XRP | 10 | 128 eV ± 3eV | 7500 ± 2500 | 8 μm Be | 3.2mm |
SDDplus-30-128-BeP Complete XRP | 30 | 128 eV ± 3eV | 12500 ± 2500 | 8 μm Be | 5.8mm |
典型应用:
X射线荧光分析
X射线能谱测量