proXAS桌面近边X射线吸收精细结构谱仪
实验室级别NEXAFS测量的系统。 现在可以在科研人员自己的实验室进行获得快速,准确的元素指纹分析。 它结合了高度可靠的激光驱动等离子体XUV光源和定制的具有1900极高分辨能力的光谱仪。200-1200eV的能量范围允许分析C,N,O,Ca,
- 产地: 德国
- 型号: proXAS
- 品牌: HP Spectroscopy
实验室级别NEXAFS测量的系统。 现在可以在科研人员自己的实验室进行获得快速,准确的元素指纹分析。 它结合了高度可靠的激光驱动等离子体XUV光源和定制的具有1900极高分辨能力的光谱仪。200-1200eV的能量范围允许分析C,N,O,Ca,
公司介绍
德国HP Spectroscopy公司成立于2012年,致力于为全球科研及工业领域的客户定制最佳解决方案,是科学仪器的全球供应商和领先开发商。产品线包括XAS系统,XUV/VUV/X-ray光谱仪,beamline产品等。主要团队由x射线、光谱、光栅设计、等离子体物理、beamline等领域的专家组成。并与全球领先的研究机构的科学家维持紧密合作,关注前沿技术,保持产品的迭代与创新。
产品简介
首台一体化桌面NEXAFS系统
不在需要申请和等待同步辐射机时
用于地质、生物、材料研究的化学态分析
同步辐射级的光谱质量
proXAS是一台实验室级别NEXAFS测量的系统。 现在可以在科研人员自己的实验室进行获得快速,准确的元素指纹分析。 它结合了高度可靠的激光驱动等离子体XUV光源和定制的具有1900极高分辨能力的光谱仪。200-1200eV的能量范围允许分析C,N,O,Ca,Ti等元素边。
测量结果
左图是用桌面系统测试200nm聚酰亚胺薄膜的碳K边NEXAFS光谱(60发脉冲平均值)。右图为桌面系统测试结果与同步辐射测试结果的对比。 (data courtesy of Dr. K. Mann, IFNANO) |
光源 | 无碎片的激光驱动 XUV 光源 |
能量范围 | 200-1200eV / 1-6nm |
重复频率 | 25Hz |
光源功率稳定性 | ±1.5% |
光谱仪 | 像差校正平场光谱仪 |
分辨率 | 1900 |
样品安装 | 多样品转轮 |
占地面积 | 1.5m x 1.0m |
软件套件 | 集成系统控制,各种光谱校准和分析功能 |
主要应用
l 表面科学
l 地球化学中的化学状态分析
l 电子结构与氧化态分析