软X射线CCD相机-内真空2048系列
公司介绍：成立于2008年的greateyes，是以德国柏林洪堡大学的技术为基础，迅速发展成为国际知名的先进探测器生产企业。如今，其科研与工业客户群体已遍布多个国家。greateyes开发、生产并销售高性能科学相机。其作为精确探测器，被广泛应用于成像与谱学应用领域。同时，greateyes公司也生产用于太阳能产业的电致荧光与光致荧光检测系统。产品介绍：greateyes基于独特的平台概念，为真空紫
- 产地： 德国
- 型号：
- 品牌： greateyes
公司介绍：
成立于2008年的greateyes，是以德国柏林洪堡大学的技术为基础，迅速发展成为国际知名的先进探测器生产企业。如今，其科研与工业客户群体已遍布多个国家。
greateyes开发、生产并销售高性能科学相机。其作为精确探测器，被广泛应用于成像与谱学应用领域。同时，greateyes公司也生产用于太阳能产业的电致荧光与光致荧光检测系统。
产品介绍：
greateyes基于独特的平台概念，为真空紫外、极紫外、软X射线和硬X射线成像与谱学客户提供 一系列科学级真空相机。该系列相机由不锈钢或铝制成，提供优异的真空兼容性。单个附加法兰 集成了电子线路和水冷通道。入射光子由CCD传感器直接探测，无需额外的控制器。
所有greateyes 相机结合科学级CCD传感器与超低噪声电子技术，以优化检测弱信号能力。 选 择不同的光谱灵敏度和传感器技术，为您的成像和光谱应用找到最佳解决方案。
此系列CCD相机采用多级的半导体制冷方式。同时，其具备丰富的功能，包括灵活的像素联用 方式，多种触发以及同步模式，软件可切换增益以及CCD传感器和散热系统的温度监控。
科学级内真空CCD相机 2048 系列
用于VUV,EUV,X-ray成像和谱学
主要特点：
◆ 制冷温度低至-70℃
◆ 亚像素分辨附件可选
◆ 超高真空兼容，低至10-8mbar
◆ 量子效率高达98%
型号参数；
| GE-VAC 2048 2048 FI GE-VAC 2048 2048 BI | GE-VAC 2048 2048 BI DD GE-VAC 2048 2048 BI UV1 | |
| 像素规格（标称） | 2048 × 2048 | 2048 × 2048 |
| 成像区域（mm2) | 27.6 × 27.6 | 27.6 × 27.6 |
| 像素尺寸（μm） | 13.5 × 13.5 | 13.5 × 13.5 |
| 满井容量( keˉ ) | 100 | 150 |
| 读出噪声典型值(eˉ) @ 500 kHz @ 1 MHz @ 3 MHz | FI / BI 7.0 9.0 18.1 | DD / BI UV1 7.0 9.0 18.1 |
| 暗电流 @ -80°C eˉ/pixel/s | 0.0003 | 0.05 |
| CCD 传感器类型 | 前照式(FI)背照式 (BI) | 深度耗尽边缘抑制性(DD) 增强型背照式 (UV1) |
| 缺陷等级 | Grade 0 or grade 1 (标准) | |
光谱应用：
· 极紫外光刻
· 软 X 射线光谱
· 等离子体发射光谱
· 高次谐波（HHG光）光谱
· X 射线近边吸收精细结构光谱
· 共振非弹性 X 射线散射
成像应用：
· X 射线断层成像
· 傅立叶变换全息图
· X 射线荧光透视成像
· 相干衍射成像（CDI）
· 电子叠层衍射（Ptychography）成像
· 掠入射小角 X 射线散射（GISAXS）
文献：
1. P. Wachulak, M. Duda, A. Bartnik, A. Sarzyński, Ł. Węgrzyński and H. Fiedorowicz, 2-D elemental mapping of an extreme ultraviolet-irradiated PET with a compact near edge X-ray fine structure spectromicroscopy, Spectrochimica Acta Part B: Atomic Spectroscopy, Volume 145, July 2018, Pages 107-114
2. P. Wachulak, A. Bartnik and H. Fiedorowicz, Optical coherence tomography (OCT) with 2 nm axial resolution using a compact laser plasma soft X-ray source, Nature Scientific Reports, volume 8, Article number: 8494 (2018)
3. P. Wachulak, M. Duda, A. Bartnik, A. Sarzyński, Ł. Węgrzyński, M. Nowak, A. Jancarek and H. Fiedorowicz, Compact system for near edge X-ray fine structure (NEXAFS) spectroscopy using a laser-plasma light source, Opt. Express 26, 8260-8274 (2018)
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7. H. Stiel, J. Braenzel, A. Dehlinger, R. Jung, A. Luebcke, M. Regehly, S. Ritter, J. Tuemmler, M. Schnuerer and C. Seim, Soft x-ray nanoscale imaging using highly brilliant laboratory sources and new detector concepts, Proc. SPIE 10243, X-ray Lasers and Coherent X-ray Sources: Development and Applications, 1024309 (17 May 2017)
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14. T. Krähling, A. Michels,S. Geisler, S. Florek, J. Franzke, Investigations into Modeling and Further Estimation of Detection Limits of the Liquid Electrode Dielectric Barrier Discharge, Analytical Chemistry, 2014, 86(12), 5822-8