行转移时间和像素读出时间：

一个像素的电荷包移动到下一个像素需要一定的时间，所需时间即为行转移时间。

像素的电荷包移入水平移位寄存器后，需要移出、放大和数字化处理，也需要一定的时间，所需时间称为像素读出时间，一般以读出频率给出。

Greateyes CCD行转移时间最大100μs。读出频率有3级可选；500kHz、1MHz和2.8MHz。

转移效率和损失率：

电荷包在像素之间转移和水平寄存器的转移过程中，可能会有电子损失，这是CCD的一个关键性能指标：转移效率或称为损失率。

转移效率定义为：电荷包转移到下一个势阱的电子数与转移前的电子数之比。

假设有256行、1024列，采用3相耦合设计，如果转移效率为99.9%，最上边一行、最左边一列的像素，需向下移动256×3次、水平移动1024次，共转移256×3+1024=1792次，则总转移效率为0.999¹⁷⁹²=0.167，损耗很大。如果转移效率为6个9，同样的转移次数，总转移效率0.999999¹⁷⁹²=99.89%。

转移效率一般在0.999995以上。

单次转移的转移效率是随机的，这就相当于引入了噪声。相机一般不会给出此性能指标，而是将其视为一种噪声，归入读出噪声。

转移效率小于1的原因：

1.       电子被俘获

2.       时钟频率过高。电荷包转移需要一定的时间，时钟频率过高，电荷转移不完全。

提高转移效率的方法：

1.       表面沟道CCD（SCCD）的电荷包转移，是通过相邻两电极之间绝缘层和P-Si间的表面沟道（反型层）进行的，会受到绝缘层和P-Si表面态的影响，电子可能会被俘获。为了提高转移效率，表面沟道CCD常采用偏置电荷技术，即在转移之前，就先给每个势阱输入一定了的背景电荷，使表面态完全填满，即零信号也有一定电荷 – 胖零（fat zero）技术。胖零技术会引入胖零噪声。

2.       避开表面态，采用隐埋通道CCD（BCCD）体内沟道的传输技术。这种埋沟结构的优点是使光生电子离开绝缘层表面，电子转移通道在N-Si内，与SiO₂绝缘层有一定的距离，减少了表面态俘获电子的概率，同时还减少了暗电流，降低热噪声。BCCD唯一的缺点是存储电子能力有所下降，比SCCD约小一个数量级，但转移损失比SCCD小1~2个数量级。

BCCD最大优点是低噪声，主要是因为消除了信号电子与表面态的相互作用。低噪声加上高的转移效率使得BCCD成为低照度下的理想摄像器件。绝大部分科学级CCD都是BCCD结构。

CCD一般不会直接给出转移效率或转移损失率指标，而是将其归入读出噪声，见下文。

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