能量色散 X 射线荧光 (ED XRF)
2019-05-09 15:42:43
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能量色散 X 射线荧光 (ED XRF)
能量色散 X 射线荧光 (EDXRF) 是用于元素分析应用的两种通用型 X 射线荧光技术之一。在 EDXRF 光谱仪中,样品中的所有元素都被同时激发,而能量色散检测仪与多通道分析仪相结合,用于同时收集从样品发射的荧光辐射,然后区分来自各个样品元素的特性辐射的不同能量。EDXRF 系统的分辨率取决于检测仪,通常范围为 150 eV - 600 eV。EDXRF 系统的主要优点是简单、快速、无运动部件和较高的源效率。
X 射线光学晶体可用于增强 EDXRF 仪器。对于常规 XRF 仪器,样品表面典型焦斑尺寸的直径范围从几百微米到几毫米不等。多毛细管聚焦光学晶体从发散 X 射线源收集 X 射线,并将它们引导至样品表面上形成直径小到几十微米的小聚焦光束。由此增加的强度以小焦斑传递到样品,可增强用于小特性分析的空间分辨率和用于微 EDXRF 应用的微量元素测量性能。
双曲面弯晶光学晶体将高强度微米级单色 X 射线束引导至样品表面,用于提升元素分析能力。
上述内容来源于XOS官网