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丹佛集结令·X射线科学前沿研讨会-DENVER X-RAY CONFERENCE

2024-07-31 10:43:55 Cavan

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北京众星联恒科技有限公司


2024

会议介绍

丹佛 X 射线会议 (DXC) 从最初在丹佛大学校园内只有 35 名与会者,到如今成为国内外公认的年度盛会,DXC 作为包含 X 射线荧光和衍射在内的一般 X 射线分析领域领先的年度论坛,今年将迎来它的第 73 周年。

作为世界上最大的 X 射线会议,与会者可以参加有关 XRD 和 XRF 最新进展的会议。由专家主持,就 X 射线荧光和 X 射线衍射技术在材料研究中的许多实际应用提供培训和教育,DXC 提供独特的培训、教育和应用课程,包括 X 射线分析的最新技术和未来发展。从 "成像新方法 "到 "世界的 TXRF",从 "火星上的 X 射线 "到 "当前和下一代同步加速器的成像",从 "X 射线防护 "到 "矿物与宝石",DXC 对于研讨领域的涵括不一而足。 


本次DXC安排了自 2024年8月5日  9日 ,为期共 5天 的会议日程。

众星联恒重要的合作伙伴:来自美国的X射线分析仪器公司 XOS,来自于美国的 Tibidabo Sientific (德国科研级CCD相机制造商 greateyes GmbH 母公司),还有来自加拿大的创新X射线成像技术解决方案提供商KA Imaging,将作为展商参加本次会议,展现他们在X射线领域的最新成果与技术实力。

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合作展商介绍

XOS

在科学研究、半导体和电池制造、制药和其他行业,XOS 是元素分析领域的全球领导者,其提供的解决方案有助于推动创新、确保合规性并提高客户效率。XOS 先进的光学元件和 OEM 子系统可以提高精度、速度和空间分辨率,同时有助于减小仪器的尺寸、复杂性和成本。专家们选择 XOS 的应用领域非常广泛,包括微量分析、电镀测厚、法医和高分辨率元素绘图。

KAimaging

BrilianSeTM  X 射线探测器采用 8 um 像素,具有高空间分辨率和高探测量子效率 (DOE) 的独特组合,能量最高可达 120 kev。这种组合可在低通量和高能量条件下实现高效成像,还能增强基于传播(无光栅)的相位对比度,从而提高低密度材料成像时的灵敏度。

InCiteTM  3D X 射线显微镜具有相位对比成像和微型 CT 功能,是首个采用 BrillianSe TM 技术的商用 X 射线 CT 系统。

Tibidabo Sientific

Tibidabo Sientific是科学和医学研究、生命科学、农业、回收利用、航空航天、国防和安全以及工业市场等领域先进技术的全球领导者。其旗下的 greateyes 公司成立于2008年,以德国柏林洪堡大学的技术为基础,迅速发展成为国际知名的先进探测器生产企业。其科研与工业客户群体己遍布多个国家。greateyes开发、 生产并销售高性能科学级CCD相机。其作为精确探测器,广泛应用于成像与谱学应用领域。同时greateyes公司也生产用于太阳能产业的电致荧光与光致荧光检测系统。

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会议议程

PART A研讨会

Monday AM workshops 

 9:00 a.m. – 12:00 p.m. 

  • Introduction to Machine Learning for X-ray Analysis - Part 1

  • Sample Preparation for XRD

  • Non-ambient XRD

  • Basic XRF

Monday AM workshops 

 1:30 p.m. – 4:30 p.m. 

  • Introduction to Machine Learning for X-ray Analysis - Part 2

  • Practical Microcomputed Tomography

  • XRF of Layered Structure

  • Quantitative XRF

Tuesday AM workshops 

 9:00 a.m. – 12:00 p.m. 

  • Machine Learning and Autonomous for X-ray Diffraction: An "Unconference" - Part 1

  • X-ray Sources and Optics

  • Sample Preparation for XRF

  • Micro XRF

Tuesday PM workshops 

 1:30 p.m. – 4:30 p.m. 

  • Machine Learning and Autonomous for X-ray Diffraction: An "Unconference" - Part 2

  • Stress Analysis

  • 2D Detectors

  • XRF Trace Analysis

PART B海报发表

Poster Sessions 

5:30 p.m. – 7:00 p.m.

  • Monday XRD Poster Session

  • Tuesday XRF Poster Session

PART C. 口述报告

Wednesday AM Session 

  • Plenary Session: Bio-Medical lmaging

Wednesday PM Session 

  • New Developments in XRD &XRF Instrumentation

  • Stress and Texture Analysis

  • Rietveld and PDF Applications

  • Quantitative Analysis of XRF

Thursday AM Session 

  • Mining, Recycling, and Sustainable Materials

  • General XRD-Part 1

  • Cultural Heritage

  • Trace Analysis

  • Micro XRF and Synchrotron Applications

Thursday PM Session 

  • Bio-Medical

  • General XRD-Part 2

  • Non-ambient Measurements

  • General XRF

Friday AM Session 

  • Machine Learning Techniques in X-ray Analysis

  • Energy Materials Characterization

  • Industrial Applications of XRD

  • Industrial Applications of XRF

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诚邀各位老师关注丹佛X射线会议(DXC 2024),丹佛即将迎来X射线领域的思维碰撞和学术盛宴。若老师们对X射线领域的最新研究、技术进展感兴趣,欢迎随时联系我们或访问官网(https://www.dxcicdd.com/)以获得更多讯息。

携手志同道合者,揭开科学新篇章。期待您的足迹,共绘科研新图谱!



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