Talint EDU: 模块化、高性价的X射线相衬、暗场成像套件

Microworks 的 TALINT- EDU 系统是一种紧凑、物美价廉的 TALbot 干涉仪套件。它是 X 射线 Talbot-Lau 干涉仪的巧妙简化形式，包括所有必要的硬件来建立和微调干涉仪，TALINT EDU 是一款灵活而精确的 X 射线光栅干涉仪，适用于 X 射线成像领域的研究人员，并且无需购买新的光源或探测器，TALINT EDU 可以轻松集成到现有的 X 射线设置中，组装过程不到30分钟。

这款干涉仪揭示了看不见的 TALINT 影像技术，首先体现在成像模式的多功能性——通过相位步进步骤来获得三种成像模式应用：吸收成像、相衬成像和暗场成像。相衬是由折射引起的，而暗场是由 X 射线的散射引起的。这增强了衬度，特别是对于低原子序数，例如聚合物和碳复合材料。

提高 X 射线成像的精度和效率

飞蛾的 X 射线图像，翅展 5 cm

吸收像（b）显示了飞蛾的整体形状，但很难看到翅膀内部的细节；使用 TALINT EDU 的相衬像(c) 和暗场像 (d) ，才真正观察到内部的精细结构。

此处和下文显示的所有 X 射线图像均使用 Talint EDU 套件，光栅周期为 4.8 µm，能量 21 keV。X 射线系统：光源峰值能量 21 keV 探测器像素尺寸 75 µm 。

TALINT 是一种灵活的解决方案，可用于研究广泛的样本范围，包括生物、医学、地质、电子、技术等。

研究中的敏感检测缺陷和不均匀性

2cm 蚕茧 X 射线图像

使用 TALINT EDU 得到的暗场图，可观察蚕茧的表面结构和围绕它的精致丝线；相衬成像图像显示了蚕体内沿其长度延伸的身体部分和精细结构的边缘检测能力增强。

光栅组选项 （含3块光栅）

 德国 Microworks GmbH 基于其独特的 LIGA 技术，向广大科研用户提供定制化的微结构加工服务。其中，它的X射线透射光栅在相衬成像领域，有着极高的声誉。Microworks为X射线无损检测（NDT）提供标准化和定制产品。在微纳米技术领域，Microworks代表着高精度，其最高纵横比和精度可以远低于 1 µm。

北京众星联恒科技有限公司作为 Microworks 的中国大陆全权代理商，为中国用户提供所有的售前咨询，销售及售后服务，同时 TALINT EDU 干涉仪套件目前我们开放国内试用, 如果您想体验这款模块化、操作简易的 X 射线相衬、暗场成像套件, 欢迎联系我们。