单色波长色散 X 射线荧光 (MWD XRF)
2019-09-05 13:47:02
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双曲面弯晶可用于增强传统的波长色散 XRF 仪器。这些基于衍射的光学晶体能够使用低功率空气冷却式 X 射线管产生高强度单色 X 射线束。根据布拉格衍射定律，这些三维形状的光学晶体选择性地反射用于样品激发的极窄 X 射线波长带。
单色波长色散 X 射线荧光 (MWD XRF) 分析仪使用两个双曲面弯晶光学晶体。典型仪器包括低功率 X 射线管、用于激发的点对点聚焦光学晶体、样品池、用于荧光收集的第二聚焦光学晶体和 X 射线检测仪。第一个聚焦光学晶体捕获来自源的窄带宽 X 射线，并将该高强度单色光束聚焦到样品上形成小光斑。单色初级束流激发样品并发射次级特性荧光 X 射线。第二个 DCC 收集光学晶体仅收集窄带宽内的相关特性 X 射线波长。
与传统 WDXRF 系统相比，此配置具有多个优点。通过使用 X 射线源特性线的单色激发来改善信背比。其次，收集光学晶体的聚焦能力允许使用小面积 X 射线计数管检测仪，这会降低检测仪噪声并增强可靠性。单色激发还可简化定量和基质效应校正。该技术带来了坚固耐用且维护低的在线分析仪，这种分析仪具有显著更低的检测限值和更快的响应时间。
使用双曲面弯晶光学晶体的单色 WDXRF 对于相关的特定样品元素具有非常高的灵敏度。该技术已成功应用于石油产品中低硫含量的测定。
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