XRF分析晶体-北京众星联恒科技有限公司

XRF分析晶体

公司介绍：德国Incoatec公司在基于薄膜技术的X射线光学器件方面拥有20年以上的经验。Incoatec公司的光学器件被用于全世界的X射线衍射测量、光谱测定和同步加速器射束线上。主打产品包括用于各种领域和针对微焦点光源方案的多层X射线光学器件。用新的光学器件和X射线源来升级X射线分析设备。计算机化的光学器件模拟、各类衬底的生产和薄膜表征使INCOATEC的服务更为完善，为重工业，化学，制药，半导

产地：德国

型号：

品牌： Incoatec

公司介绍：

德国Incoatec公司在基于薄膜技术的X射线光学器件方面拥有20年以上的经验。Incoatec公司的光学器件被用于全世界的X射线衍射测量、光谱测定和同步加速器射束线上。主打产品包括用于各种领域和针对微焦点光源方案的多层X射线光学器件。用新的光学器件和X射线源来升级X射线分析设备。计算机化的光学器件模拟、各类衬底的生产和薄膜表征使INCOATEC的服务更为完善，为重工业，化学，制药，半导体产业，生命科学和纳米技术提供解决方案，是可靠，高效和用户友好型产品，具备德国制造的精髓。

产品介绍：

根据布拉格定律，X射线会在晶体的晶格平面发生衍射，并满足以下公式。

2d sinθ = k λ

其中，

◆ λ是入射X射线光束的波长。

◆ θ被称为布拉格角，即满足上述布拉格公式时，X射线被晶体衍射时的角度。

◆ λ和θ两个参数通过晶面间的原子间距d，在物理上联系在了一起。一旦为特定的衍射选择了确定的晶体材料后，晶面间距d就确定了。

◆ 2d值则规定了该晶体能发生衍射的最长波长。

◆ 一般而言, 常用的布拉格角被限制在85°以内。

依据布拉格公式，X射线光学用晶体材料的选型原则如下：波长范围和布拉格角共同决定了2d值的选择；

材料能够耐受X射线束的通量和能量的能力；例如，有机晶体不能耐受高通量的X射线束，或反复的（较高通量的）X射线束曝光；当需要对其进行弯曲时，有足够的机械能力；晶体的衍射/反射能力；然后可以通过晶体的成本来确定最经济的选择。比如锗晶体的成本要高于硅晶体。

我司可以提供如下各种类型的平晶和弯晶，面型包括柱面、球面、抛物面、超环面和圆锥面等。

规格参数：

晶体类型	晶面指数	2d值(Å)	晶体类型	晶面指数	2d值(Å)
Quartz	22-43	2.024	Quratz	10-10	8.514
Quartz	20-23	2.749	PET	002	8.740
LiF	220	2.848	TAM	020	8.780
Si	220	3.840	APD	101	10.648
Ge	220	4.000	Beryl	1010	15.950
LiF	200	4.027	TIAP	001	25.900
Si	111	6.271	RbAP	001	26.120
Ge	111	6.532	KAP	001	26.640
Quartz	10-11	6.684	CsAP	001	26.650