科学级全帧UV/VIS/NIR相机

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科学级超高分辨相机

科学级超高分辨相机

公司介绍：成立于2008年的greateyes，是以德国柏林洪堡大学的技术为基础，迅速发展成为国际知名的先进探测器生产企业。如今，其科研与工业客户群体已遍布多个国家。greateyes开发、生产并销售高性能科学相机。其作为精确探测器，被广泛应用于成像与谱学应用领域。同时，greateyes公司也生产用于太阳能产业的电致荧光与光致荧光检测系统。产品介绍：来自greateyes的科学级超高分辨CCD为

  • 产地： 德国
  • 型号：
  • 品牌： Greateyes

公司介绍：

成立于2008年的greateyes，是以德国柏林洪堡大学的技术为基础，迅速发展成为国际知名的先进探测器生产企业。如今，其科研与工业客户群体已遍布多个国家。

greateyes开发、生产并销售高性能科学相机。其作为精确探测器，被广泛应用于成像与谱学应用领域。同时，greateyes公司也生产用于太阳能产业的电致荧光与光致荧光检测系统。


产品介绍：

来自greateyes的科学级超高分辨CCD为红外到X射线区域光谱分析及成像应用的客户提供了一种全新的选择。其核心来源于用最新的技术为用户提供了亚像素分辨的能力，与标准的科学级CCD相比，科学级超高分辨CCD以其超低的读出噪声、极高的量子化效率、极低的暗电流以及超高的动态范围提供了更好的空间及光谱分辨能力，实现过程是通过亚像素微米范围内探测器的移动，同时抓取不同图像生成具有较高分辨的图像。整个图像采集过程实现了全自动化。独一无二的超高分辨技术可应用于所有greateyes科学级CCD系列，详细参数请参照相应系列的CCD参数。北京众星联恒科技有限公司               北京众星联恒科技有限公司

技术原理：

科学级超高分辨CCD在图像传感器和制冷元件后方集成了一个非常紧凑的X-Y位移装置。通过软件用户可选择预定义的测量顺序以达到期望的空间分辨率。例如，2 x 2的图像子集下，最终图像尺寸增至相机图像传感器的4倍。软件采集2 x 2 = 4帧顺序图，每帧下传感器在x与y方向上移动亚像素微米级的距离。并通过算法将各帧图像合成最终的超分辨图像。

超高分辨图像的获取与单个图像的获取一样简单。所有其他性能参数与greateyes科学级CCD相同。

greateyes科学级CCDgreateyes科学级超高分辨率CCD
GE 1024 1024 xxxGE-S 1024 1024 xxx
Sensor;1024x1024 pixel(1Mpx),13μm pixel sizetyp.image;2048x2048(4.2Mpx),eff.pixel size;≤8.2μm
GE 2048 2048 xxxGE-S 2048 2048 xxx
Sensor;2048x2048 pixel(4.2Mpx),13.5μm pixel sizetyp.image;4096x4096(16.7Mpx),eff.pixel size;≤8.4μm
GE 4096 4096 xxxGE-S 4096 4096 xxx
Sensor;4096x4096 pixel(16Mpx),15μm pixel sizetyp.image;8192x8192(67.1Mpx),eff.pixel size;≤9.4μm
GE 1024 256 xxxGE-S 1024 256 xxx
Sensor;1024x256 pixel(0.25Mpx),26μm pixel sizetyp.image;2048x512(1Mpx),eff.pixel size;≤16.3μm
GE 2048 512 xxxGE-S 2048 512 xxx
Sensor;2048x512 pixel(1Mpx),13.5μm pixel sizetyp.image;4096x1024(4.2Mpx),eff.pixel size;≤8.4μm


应用：

★近红外到X射线范围内的更高空间分辨的亚像素弱光成像

★近红外到X射线范围内的更高光谱分辨要求的光谱分析

★新兴应用如EUV和软X射线显微成像


应用案例

1951 USAF resolution test chart, 4 x 4 image frames → Superresolution image

北京众星联恒科技有限公司

                     Reference pattern                Single camera image              Superresolution image          Interpolation image

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成像结果

1951 USAF Pattern Hf15 Mesh 135                                                                                                      Diatom, edge filter applied

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北京众星联恒科技有限公司德国GE_科学级超高分辨相机.datasheet.pdf


文献：

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2.  P. Wachulak, A. Bartnik and H. Fiedorowicz, Optical coherence tomography (OCT) with 2 nm axial resolution using a compact laser plasma soft X-ray source, Nature Scientific Reports, volume 8, Article number: 8494 (2018)

3.  P. Wachulak, M. Duda, A. Bartnik, A. Sarzyński, Ł. Węgrzyński, M. Nowak, A. Jancarek and H. Fiedorowicz, Compact system for near edge X-ray fine structure (NEXAFS) spectroscopy using a laser-plasma light source, Opt. Express 26, 8260-8274 (2018)

4.  A. Jonas, T. Meurer, B. Kanngießer and I. Mantouvalou, Reflection zone plates as highly resolving broadband optics for soft X-ray laboratory spectrometers, Review of Scientific Instruments 89, 026108 (2018)

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6.  C. Buerhop, S. Wirsching, A. Bemm et al. Evolution of cell cracks in PV modules under field and laboratory conditions. Prog Photovolt Res Appl. 2018;26:261–272

7.  H. Stiel, J. Braenzel, A. Dehlinger, R. Jung, A. Luebcke, M. Regehly, S. Ritter, J. Tuemmler, M. Schnuerer and C. Seim, Soft x-ray nanoscale imaging using highly brilliant laboratory sources and new detector concepts, Proc. SPIE 10243, X-ray Lasers and Coherent X-ray Sources: Development and Applications, 1024309 (17 May 2017)

8.  M. F. Nawaz, M. Nevrkla, A. Jancarek, A. Torrisi, T. Parkman, J. Turnova, L. Stolcova, M. Vrbova, J. Limpouch, L. Pina and P. Wachulak, Table-top water-window soft X-ray microscope using a Z-pinching capillary discharge source, JINST, 2016, Vol. 11 PO7002

9.  I. Mantouvalou, K. Witte, W. Martyanov, A. Jonas, D. Grötzsch, C. Streeck, H. Löchel, I. Rudolph, A. Erko, H. Stiel and B. Kanngießer, Single shot near edge x-ray absorption fine structure spectroscopy in the laboratory, Appl. Phys. Lett. 108, 201106 (2016)

10.  S. Fazinić, I. Božičević Mihalić, T. Tadić, D. Cosic, M. Jakšić, D. Mudronja, Wavelength dispersive µPIXE setup for the ion microprobe, Nucl. Instr. Meth. Phys. Res. Sec. B, 2015, Vol. 363, pages 61-65   

11.  A. Hafner, L. Anklamm, A. Firsov, A. Firsov, H. Löchel, A. Sokolov, R. Gubzhokov, and A. Erko, Reflection zone plate wavelength-dispersive spectrometer for ultra-light elements measurements, Opt. Express, 2015, Vol. 23, No. 23:29476-29483

12.  P. W. Wachulak, A. Torrisi, A. Bartnik, D. Adjei, J. Kostecki, L. Wegrzynski, R. Jarocki, M. Szczurek, H. Fiedorowicz, Desktop water window microscope using a double‑stream gas puff target source, Applied Physics B, 2015, 118:573–578

13.  I. Mantouvalou, K. Witte, D. Grötzsch, M. Neitzel, S. Günther, J. Baumann, R. Jung, H. Stiehl, B. Kanngießer, W. Sandner, High average power, highly brilliant laser-produced laser plasma source for soft X-ray spectroscopy, Review of Scientific Instruments, Vol. 86, Issue 3, 2015 

14.  T. Krähling, A. Michels,S. Geisler, S. Florek, J. Franzke, Investigations into Modeling and Further Estimation of Detection Limits of the Liquid Electrode Dielectric Barrier Discharge, Analytical Chemistry, 2014, 86(12), 5822-8


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