高分辨Von Hamos发射谱仪在Desy P64 先进XAFS线站搭建完成

2019-12-24 11:49:09 115

高分辨Von Hamos发射谱仪在Desy P64

先进XAFS线站搭建完成

目前，在德国Desy P64先进X射线吸收谱（Advanced XAFS）线站搭建完成，已经向研究人员开放。该谱仪隶属于帕德博恩大学（the University of Paderborn），请广大用户在提交研究计划之前，联系Matthias Bauer博士或Aleksandr Kalinko博士。

High resolution von Hamos-type spectrometer at P64

谱仪技术参数介绍-可用晶体

*	Si(111) - 8 crystals
*	Si(110) - 8 crystals
*	Si(311) - 6 crystals
*	Si(400) - 6 crystals
*	Si(331) - 6 crystals
*	Si(422) - 6 crystals

晶体尺寸：	100mm x 40mm
晶体类型：	柱面弯晶
曲率半径：	500mm
其它：如上述晶体无法满足实验需求，也欢迎客户携带自己的晶体进行实验。

X射线探测器

X-Spectrum公司- Lambda 750K
Sensor材料：	Si-300µm
像素尺寸	55µm x 55µm
帧率可达:	2000 frames per second in 12 bit mode
计数器深度:	12 bit (连续读写模式，无读出时间), 24 bit (1ms读出时间)
计数率:	高达2.5x10E8 cps/mm2 (10%线性偏离的情况下)
噪声：	无（5keV阈值设定下）

长按关注获得更多前沿资讯

北京众星联恒科技有限公司

X-Spectrum 公司中国区授权总代理商

地址：北京市海淀区信息路1号国际创业园

西区2号楼1305

电话：010-86467571

传真：010-62962792

邮箱：sales@top-unistar.co

行业资讯

高分辨Von Hamos发射谱仪在Desy P64 先进XAFS线站搭建完成

新闻动态

行业资讯

高分辨Von Hamos发射谱仪在Desy P64 先进XAFS线站搭建完成

新闻动态

为您推荐